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一种开路器件互调测试仪的制作方法

时间:2023-06-12    作者: 管理员

专利名称:一种开路器件互调测试仪的制作方法
技术领域
本发明涉及一种开路器件的三阶互调测试领域。
背景技术
“开路器件互调测试仪”是一种精密的互调信号测量专用设备,用于检测一些开路器件的“互调干扰”噪声,由于有些电缆和接头生产厂家每天的销售量很大,产品的交货周期很短,这就给生产带来很大压力。一般的互调测试仪在测量产品的互调数值时,要求测试厂家在连接被测件以后,必须接低互调负载将功率吸收,防止大功率信号发射,造成互调仪损坏。所以,厂家为了不使仪表损坏,在测量电缆时,必须将电缆的另外一端通过转换接头连接到低互调负载上;在测量接头时,就必须通过转接电缆将接头的另外一端接到低互调负载上。这样在测量一个被测件时,至少要连接两次接头,才能完成一次测试,产能上不来,有时,在测量一些开路器件时(如:电缆的一端有接头,另一端没有接头)就无法测试。

发明内容
本发明所要解决的技术问题在于克服现有技术的不足,提供一种既能测量常规器件的互调指标,又能测量开路器件的互调指标的开路器件互调测试仪。本发明具体采用以下技术方案解决上述技术问题:本发明设计了一种开路器件互调测试仪,包括两个信号源模块101,102、两个微波功率放大器201,202、两个隔离器301,302、两个负载501,502、合路器601、耦合器401、功率计701、频谱仪801和双工器901,其中:
所述第一信号源模块101·和第二信号源模块102的输出端分别串接第一微波功率放大器201和第二微波功率放大器202的输入端;
所述第一微波功率放大器201和第二微波功率放大器202的输出端分别连接第一隔离器301和第二隔离器302的输入端,第一隔离器301和第二隔离器302的输出端共同连接合路器601的输入端,第一、第二微波功率放大器将放大后的信号分别通过第一隔离器301和第二隔离器302传输至合路器601 ;
合路器601的输出端连接耦合器401的输入端,所述合路器601将两路信号合成后传输至耦合器401进行耦合处理,所述耦合器401的耦合端连接功率计701的输入端,所述功率计701用于监测第一、第二微波功率放大器的输出功率;
所述耦合器401的输出端连接双工器901的发射端,双工器901的接收端连接频谱仪801的输入端,所述双工器901将接收到的耦合信号作为测试信号通过其公共端传输至被测开路器件的测试端;
所述第一隔离器301和第二隔离器302的隔离端分别连接到第一负载501和第二负载502的输入端,所述测试信号一部分通过双工器901的发射端返回耦合器401,另一部分测试信号反射进入双工器901的接收端,所述第一负载501和第二负载502用于将返回的测试信号吸收;
反射后的测试信号形成无源互调信号,并通过双工器901的接收端传输至频谱仪801,所述频谱仪801将无源互调信号以谱线方式显示出来。作为本发明的一种优化结构:所述耦合器401为腔体式定向耦合器。作为本发明的一种优化结构:所述第一、第二信号源模块为独立台式信号源。本发明与现有技术相比具有如下优点:
1、模块化设计,组合灵活、方便;
2、仪表级测试标准,测量精度高; 3、反射隔离式信号通路设计,降低反射信号功率,避免仪器自身损伤;
4、测试范围广,可以测量任意驻波条件下的被测件;
5、测试界面简洁明了,操作简单。


图1为本发明所设计的开路器件互调测试仪的原理结构图。
具体实施例方式下面结合附图对本发明做进一步的详细说明:
如图1所示,本发明设计了一种开路器件互调测试仪,包括两个信号源模块101,102、两个微波功率放大器201,202、两个隔离器301,302、两个负载501,502、合路器601、耦合器401、功率计701、频谱仪801和双工器901,其中:
所述第一信号源模块101和第二信号源模块102的输出端分别串接第一微波功率放大器201和第二微波功率放大器202的输入端,并组成功率放大单元;
所述第一微波功率放大器201和第二微波功率放大器202的输出端分别连接第一隔离器301和第二隔离器302的输入端,所述第一隔离器301和第二隔离器302的的隔离端分别连接到第一负载501和第二负载502的输入端,并组成功率保护单元;
第一隔离器301和第二隔离器302的输出端共同连接合路器601的输入端,第一、第二微波功率放大器将放大后的信号分别通过第一隔离器301和第二隔离器302传输至合路器601 ;
合路器601的输出端连接耦合器401的输入端,所述合路器601将两路信号合成后传输至耦合器401进行耦合处理,所述耦合器401的耦合端连接功率计701的输入端,所述功率计701用于监测第一、第二微波功率放大器的输出功率;
所述耦合器401的输出端连接双工器901的发射端,双工器901的接收端连接频谱仪801的输入端,所述双工器901将接收到的耦合信号作为测试信号通过其公共端传输至被测开路器件的测试端口;
所述第一隔离器301和第二隔离器302的隔离端分别连接到第一负载501和第二负载502的输入端,所述测试信号一部分通过双工器901的发射端返回耦合器401,另一部分测试信号反射进入双工器901的接收端,所述第一负载501和第二负载502用于将返回的测试信号吸收;
反射后的测试信号形成无源互调信号,并通过双工器901的接收端传输至频谱仪801,所述频谱仪801将无源互调信号以谱线方式显示出来。作为本发明的一种优化结构:所述耦合器401为腔体式定向耦合器。作为本发明的一种优化`结构:所述第一、第二信号源模块为独立台式信号源。
权利要求
1.一种开路器件互调测试仪,其特征在于,包括两个信号源模块(101,102)、两个微波功率放大器(201,202)、两个隔离器(301,302)、两个负载(501,502)、合路器(601)、耦合器(401)、功率计(701)、频谱仪(801)和双工器(901),其中: 所述第一信号源模块(101)和第二信号源模块(102)的输出端分别串接第一微波功率放大器(201)和第二微波功率放大器(202)的输入端; 所述第一微波功率放大器(201)和第二微波功率放大器(202)的输出端分别连接第一隔离器(301)和第二隔离器(302)的输入端,第一隔离器(301)和第二隔离器(302)的输出端共同连接合路器(601)的输入端,第一、第二微波功率放大器将放大后的信号分别通过第一隔离器(301)和第二隔离器(302)传输至合路器(601); 合路器(601)的输出端连接耦合器(401)的输入端,所述合路器(601)将两路信号合成后传输至耦合器(401)进行耦合处理,所述耦合器(401)的耦合端连接功率计(701)的输入端,所述功率计(701)用于监测第一、第二微波功率放大器的输出功率; 所述耦合器(401)的输出端连接双工器(901)的发射端,双工器(901)的接收端连接频谱仪(801)的输入端,所述双工器(901)将接收到的耦合信号作为测试信号通过其公共端传输至被测开路器件的测试端; 所述第一隔离器(301)和第二隔离器(302)的隔离端分别连接到第一负载(501)和第二负载(502)的输入端,所述测试信号一部分通过双工器(901)的发射端返回耦合器(401),另一部分测试信号反射进入双工器(901)的接收端,所述第一负载(501)和第二负载(502)用于将返回的测试信号吸收; 反射后的测试信号形成无源互调信号,并通过双工器(901)的接收端传输至频谱仪(801 ),所述频谱仪(801)将无源 互调信号以谱线方式显示出来。
2.根据权利要求1所述的开路器件互调测试仪,其特征在于:所述耦合器(401)为腔体式定向I禹合器。
3.根据权利要求1所述的开路器件互调测试仪,其特征在于:所述第一、第二信号源模块为独立台式信号源。
全文摘要
本发明公开了一种开路器件互调测试仪,包括两个信号源模块101,102、两个微波功率放大器201,202、两个隔离器301,302、两个负载501,502、合路器601、耦合器401、功率计701、频谱仪801和双工器901;本发明所设计的开路器件互调测试仪既能测量常规器件的互调指标,又能测量开路器件的互调指标。
文档编号G01R31/00GK103245851SQ20131011756
公开日2013年8月14日 申请日期2013年4月7日 优先权日2013年4月7日
发明者朱斌, 李荣明 申请人:南京纳特通信电子有限公司

  • 专利名称:具有波导结构的自混合干涉设备的制作方法技术领域:本发明涉及基于半导体激光源和光电探测器的自混合干涉设备,所述光电探测器被布置成检测由所述半导体激光源所发射的激光辐射的强度变化。背景技术:这样的基于自混合干涉量度学(SMI)的激光传
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