专利名称：一种双弹簧探针的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种集成电路测试时使用的探针，特别是在高频集成电路测试时能保证探针总长极短，同时又要提供较大的接触压力，提供稳定电气连接的弹簧探针。
背景技术：
如图1所示，传统的弹簧探针由上顶针1、下顶针4、腔体2、弹簧3四个部件组成。 上、下顶针的较大一头置于腔体两端内，弹簧置于腔体的中间，再将腔体的两端向里卷边， 将上、下顶针的较大一头包在腔体内，向腔体内挤压上下顶针，压缩弹簧，形成较稳定的弹力和电气接触。由于传统的探针，弹簧的总长以及压缩量受到探针总长、上下顶针在腔体内部部分的长度的限制，弹簧的线径受探针的腔体的外径和壁厚的限制。因此，弹簧的弹力就极大的受到探针大小的限制。特别是针对高频的集成电路测试，探针在测试状态时的总长要求越短越好，而为了有稳定的连接，要求探针弹力足够刺穿锡球(或焊盘)表面的氧化层。传统探针未能很好满足既需探针短，又需探针弹力大的需求。
发明内容为解决现有技术中既需探针短，又需弹力大的要求，改变传统的探针设计，避免腔体对弹簧的限制、增加单位长度压缩量产生的弹力。本实用新型的目的是提供一种新型的弹簧探针结构，有效解决短小探针提供大弹力的问题。本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是一种双弹簧探针，由上顶针1、下顶针4与弹簧31和弹簧32组成，两弹簧31、32并排设置在上、下顶针之间，上、下顶针通过互相反扣的钩状结构5相配合，达到稳定的探针装配结构。本实用新型的双弹簧探针不设腔体。
图1是传统探针的结构示意图；图2是本实用新型探针结构示意图；图3本实用新型探针各部件示意图；图4是本实用新型探针与传统探针压缩量压力对比图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明，但不作为本实用新型的限定。请参看图2和图3，本实用新型探针的上顶针1、下顶针4由铍铜材料精加工而成。上、下顶针内侧端部由互相反扣的钩状结构5相配，并且由两弹簧31和弹簧32将其包住，两弹簧并排在中间，两弹簧的两端由上、下顶针弯折部分限位住。形成稳定的装配结构。对于相同的探针压缩量，本实用新型结构的弹簧探针产生的量几乎相当于传统探针的两倍。 图4是相同尺寸规格的本实用新型双弹簧探针与传统探针压缩量压力对比图。图表中，横轴是探针压缩量，单位为毫米，纵轴为弹力，单位为克。可见，相同尺寸规格时，本新型结构探针所提供的弹力有0. 5到1倍的提高。
权利要求1. 一种双弹簧探针，其特征由上顶针(1)、下顶针G)、两弹簧(31、3幻组成，两弹簧并排设置在上、下顶针之间，上、下顶针通过互相反扣的钩状结构(5)相配合，达到稳定的探针装配结构。
专利摘要本实用新型涉及一种集成电路测试时使用的探针，特别是在高频集成电路测试时能保证探针总长极短，同时又要提供较大的接触压力，提供稳定电气连接的双弹簧探针。由上顶针、下顶针与两弹簧组成，两弹簧并排设置在上、下顶针之间，上、下顶针通过互相反扣的钩状结构相配合，达到稳定的探针装配结构。对于相同的探针压缩量，本实用新型结构的弹簧探针产生的量几乎相当于传统探针的两倍。
文档编号G01R1/067GK202126452SQ201120185869
公开日2012年1月25日 申请日期2011年6月3日 优先权日2011年6月3日
发明者殷岚勇, 王强, 田治峰, 贺涛, 高凯 申请人:上海韬盛电子科技有限公司