专利名称：振荡器晶体电参数测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种振荡器晶体运输装置，具体的说，是涉及一种振荡器晶体电参数测试装置。
背景技术：
石英晶体振荡器生产中没有自动测试设备能够测量产品晶体电参数，这样石英晶片的电性能的不良造成振荡器不能更好的起振，输出波形不能够更稳定，产品合格率低，生产效率低下。

实用新型内容针对上述现有技术中的不足，本实用新型提供一种能将不良晶片剔除，能够让晶体与IC能够更好的匹配，提高产品合格率的振荡器晶体电参数测试装置。本实用新型所采取的技术方案是:一种振荡器晶体电参数测试装置，包括振荡器定位框、设置于振荡器定位框外侧将振荡器移载到振荡器定位框内的运动控制单元和将振荡器产品固定于测量基准位置的定位探针，还包括与SMD振荡器外测点进行接触的测量探针；测量探针与板相连接；板与250B测试系统相连接。本实用新型相对现有技术的有益效果:本实用新型振荡器晶体电参数测试装置，能将不良晶片剔除，能够让晶体与IC能够更好的匹配，提高 产品合格率，提高劳动效率，降低生产成本。图1是本实用新型振荡器晶体电参数测试装置结构原理图。

附图中主要部件符号说明:1、运动控制单元2、振荡器定位框3、定位探针4、振荡器5、测量探针6、板7、250B测试系统8、振荡器外测点。
具体实施方式
以下参照附图及实施例对本实用新型进行详细的说明:附图1可知，一种振荡器晶体电参数测试装置，包括运动控制单元1、振荡器定位框2和定位探针3，还包括测量探针5 ;测量探针5与板6相连接；板6与250B测试系统7相连接；所述运动控制单元I将振荡器4移载到振荡器定位框2内。本实用新型通过控制电路、机械运动结构控制测量探针与基座外测点进行接触，以实现测试出石英晶体的电参数。[0017]在测试座上固定一只振荡器，通过控制电路控制定位夹使基座固定一基准位置，再通过控制电路控制探针与基座外测点进行接触。从而达到对石英晶体电参数的测试。运动控制单元将振荡器移载到振荡器定位框内，定位探针动作将振荡器产品固定于测量基准位置，测量探针动作与SMD振荡器外测点进行接触，测量探针与板相连接，板与250B测试系统相连接。在测量探针与外测点相接触时，板将测量信号输送给250B测试系统，则实现对振荡器产品晶体电参数的测量，并在显示器显示测量值判断合格与否。本实用新型振荡器晶体电参数测试装置，能将不良晶片剔除，能够让晶体与IC能够更好的匹配，提高产品合格率，提高劳动效率，降低生产成本。
权利要求1.一种振荡器晶体电参数测试装置，其特征在于:包括振荡器定位框、设置于振荡器定位框外侧将振荡器移载到振荡器定位框内的运动控制单元和将振荡器产品固定于测量基准位置的定位探针，还包括与SMD振荡器外测点进行接触的测量探针；测量探针与板相连接；n板与250B测试系统相连接。
专利摘要本实用新型涉及一种振荡器晶体电参数测试装置，包括运动控制单元、振荡器定位框和定位探针，还包括测量探针；测量探针与π板相连接；π板与250B测试系统相连接；所述机械运动控制单元将振荡器移载到振荡器定位框内。本实用新型振荡器晶体电参数测试装置，能将不良晶片剔除，能够让晶体与IC能够更好的匹配，提高产品合格率，提高劳动效率，降低生产成本。
文档编号G01R31/00GK202948083SQ20122059780
公开日2013年5月22日 申请日期2012年11月14日 优先权日2012年11月14日
发明者李永斌, 杨铁生, 段宗涛 申请人:同方国芯电子股份有限公司